メモリ・テスト・システムによる、磁気ランダム・アクセス・メモリ（STT-MRAM）のスイッチング電流測定技術を確立 東北大学 CIESとの共同研究、STT-MRAMの不良解析と実用化に大きく前進 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 代表取締役 兼 執行役員 ...

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、メモリ・テスト・システム「T5800シリーズ」の新製品「T5822」を発売しました。モバイル機器に広く使用されているDRAM、NANDフラッシュなどの不揮発性メモリのウエハ試験に最適です。

JFE商事エレクトロニクスは1月26日、車載グレードのメモリテスト・リペアソリューションを手掛ける台iSTART-TEKと正規販売代理店契約を締結したことを発表した。 閉じる SoCをはじめとするロジック半導体で生み出されるデータを保管するなどの役割を担う ...

アドバンテストは11月27日、PCIeやUFSなどの高速シリアルプロトコルNAND型フラッシュメモリ向けメモリ・テストシステム「T5851 STM16G」を発表した。 同システムは、複数のプロトコルや、BGAパッケージとLGAパッケージ、設計評価から量産工程までといった ...